Méthodes d'analyse des surfaces - KAMA8M20

  • Volumes horaires

    • CM 8.0
    • Projet -
    • TD -
    • Stage -
    • TP -
    • DS 2.0

    Crédits ECTS

    Crédits ECTS 0.15

Objectif(s)

Etude détaillée de quelques techniques de caractérisation (MEIS, XPS et microscopies à sonde locale) utilisées comme outils de contrôle des surfaces et des couches minces. Cet enseignement est illustré par de nombreux exemples d'application.

Contenu(s)

1 Ordres de grandeur en Physique des surfaces et en Physique du vide. Instrumentations : sources, analyseurs et détecteurs
2 Physique de la MEIS. Applications à l'étude des matériaux et structures.
3 XPS, physique et applications.
4 Microscopies à sonde locale, physique et applications.

Prérequis

Notions de physique du solide et de mécanique quantique. Outils mathématiques usuels.

Contrôle des connaissances

100% examen terminal :

  • 1 épreuve écrite - 1h
  • Documents interdits
  • calculatrice interdite, tout autre matériel électronique interdit
  • En cas de tiers-temps : 1/3 temps supplémentaire
    En cas de non validation d’une UE, le jury peut autoriser l’élève ingénieur à passer des épreuves complémentaires pour la valider.

Calendrier

Le cours est programmé dans ces filières :

  • Formations d'ingénieur - MAT - Semestre 8

Informations complémentaires

Code de l'enseignement : KAMA8M20
Langue(s) d'enseignement : FR

Vous pouvez retrouver ce cours dans la liste de tous les cours.

Bibliographie

L.C. Feldman et J.W. Mayer, Fundamentals of surface and thin film analysis (North-Holland, New-York, 1984).