Spécialités IESE & E2I

Identité
Laboratoire
Mots clés
Key words
Liliana ANDRADE TIMA
  • Modélisation de systèmes intégrés mixtes analogiques/numériques
  • Simulation et co-simulation de systèmes complexes (systèmes logiciel/matériel cyber-physiques)
  • Sychronisation des systèmes discret/continu
  • Integrated Analog / Digital Integrated Systems Modeling
  • Simulation and co-simulation of complex systems (cyber-physical software / hardware systems)
  • Sychronization of discrete / continuous systems
Skandar BASROUR TIMA
  • Conception, fabrication et caractérisation de MEMS
  • Développement de nouveaux matériaux pour piezoMEMS (applications: microacoustique et medtech)
  • Modelling, fabrication and characterization of MEMS
  • Development of new materials for piezoMEMS (applications: microacoustic  and medtech)
Maxime BESACIER LTM
  • Lithographie optique
  • Métrologie dimensionnelle à l’échelle nanométrique
  • Modélisation
  • Métrologie hybride
  • Scattérométrie
  • Apprentissage machine
  • Optical lithography
  • Dimensional metrology at nanometer scale
  • Modeling
  • Hybrid metrology
  • Scatterometry
  • Machine learning
Ahmad BSIESY LTM
  • Etude des matériaux ferroélectriques à base d'oxyde d'hafnium : élaboration et caractérisation physico-chimique et électriques
  • Etude des structures Métal/Ferro/Métal pour une application de mémoires ferroélectriques intégrées, FeRAM
  • Study of hafnium oxide-based ferroelectric materials: elaboration and physicochemical and electrical characterization.
  • Study of Metal/Ferro/Metal structures for integrated ferroelectric memory applications, FeRAM
Gilles CAUFFET G2ELab
  • Modélisation de champs electromagnétiques faible basse fréquence
  • Mesure, caractérisation et métrologie magnétique
  • Problème inverse et identification de sources électromagnétiques
  • Modeling low-frequency electromagnetic fields
  • Measurement, Characterization and Magnetic Metrology
  • Inverse problem and identification of electromagnetic sources
Sylvie CHARBONNIER GIPSA-Lab
  • Surveillance, diagnostic et apprentissage à partir des données 
  • Monitoring, diagnosis, machine learning, data mining 
Pierre CORBINEAU VERIMAG
  • Assistants de preuve, preuves formelles, logique
  • Démonstration automatique, procédures de décision
  • Utilisation des preuves formelles pour les algorithmes distribués autostabilisants
  • Proof Assistants, Formal proof, Logic
  • Automatic demonstration, decision procedures
  • Using formal evidence for self-stabilizing distributed algorithms
David EON INSTITUT NEEL
  • Croissance par plasma microonde de diamant
  • Physique du composant
  • Électronique de puissance
  • Microwave plasma growth of diamond
  • Electronic devices physics
  • Power electronics semiconductors
Eric GASCARD G-SCOP
  • Diagnostic, pronostic, maintenance de systèmes de production de biens physiques ou de services
  • Modélisation et simulation de systèmes dynamiques complexes
  • Automates temporisés, automates communicants, automates hybrides
  • Réseaux de Petri, réseaux de files d'attente
  • Systèmes à événements discrets, arbres de défaillances dynamiques
  • Simulation de Monte Carlo
  • Diagnosis, prognosis, maintenance of production systems for physical goods or services
  • Modeling and simulation of complex dynamic systems
  • Timed automata, communicating automata, hybrid automata
  • Petri nets, Queuing networks
  • Discrete Event Systems, Dynamic Failure Trees
  • Monte Carlo simulation
Etienne GHEERAERT INSTITUT NEEL
  • Semiconducteurs à grand gap
  • Croissance et technologie du diamant
  • Composants électroniques de puissance
  • Wide bandgap semiconductors
  • Diamond growth and processing
  • Power electronic devices
Nathalie GUYADER GIPSA-Lab
  • Modèles de perception visuelle et analyse des mouvements oculaires
  • Visual perception models and eye movement analysis
Martin KOGELSCHATZ LTM
  • Diagnostics optiques et électriques des plasmas basse pression
  • Application à la gravure plasma pour la microélectronique
  • Optical and electrical diagnostics of low-pressure plasmas
  • Application to plasma etching for microelectronics 
Patricia LADRET GIPSA-Lab
  • Traitement d'image en général (applications en vision : estimation de la qualité d'images , de la qualité esthétique et du naturel d'une image, recherche de métriques de qualité corrélée à la perception visuelle
  • Image processing (vision applications) speciality in image quality assessment, aesthetic quality and the naturalness of an image, research to propose quality metrics correlated with visual perception
Denis PELLERIN GIPSA-LAB
  • Analyse d'images et de vidéos (classification par réseau de neurones, reconnaissance d'activité humaine, perception en robotique mobile)
  • Modèles de perception visuelle, substitution sensorielle
  • Quality of images and videos (quality with or without reference), aesthetic quality
  • Computer vision (extraction and tracking of an object for decision making, for example checking the safety bar on chairlifts)
Frédéric ROUSSEAU TIMA - CNRS UMR5159
  • Architecture des systèmes intégrés, architecture logiciel/matériel, outils de CAO pour la conception, le prototypage ou la génération de code bas niveau
  • Integrated systems architecture, software / hardware architecture, CAD tools for low-level design, prototyping, or code generation
Zineb SIMEU-ABAZI G-SCOP
  • Sûreté de fonctionnement, Surveillance
  • Optimisation de la maintenance
  • Diagnostic, pronostic
  • Fiabilité des systèmes
  • Dependability, Surveillance
  • Optimization of maintenance
  • Diagnosis, prognosis,
  • Reliability of the systems.
Alain SYLVESTRE G2ELab
  • Propriétés diélectriques de matériaux isolants appliqués à l'énergie électrique, la microélectronique et l'électronique Développement de générateurs électrostatiques souples
  • Dielectric Properties of Insulating Materials Applied to Electrical Energy, Microelectronics and Electronique
  • Development of flexible electrostatic generators
Alina VODA GIPSA-LAB
  • Modélisation dynamique à base de données, commande, robustesse, systèmes fractionnaires
  • Application aux nano-systèmes, systèmes intégrés et systèmes biologiques
  • Dynamic Database Modeling, Control, Robustness, Fractional Systems
  • Application to nano-systems, integrated systems and biological systems
Nacer-Edine ZERGAINOH TIMA
  •  Robustesse et fiabilité des MPSoC et NoC : 
            Étude de la tolérance aux fautes dans les systèmes multi-cœurs         utilisant des technologies avancées à plusieurs niveaux (circuit, bloc, micro-architecture, réseau d’interconnexion, système)

            Évaluation de la sensibilité aux fautes transitoires et permanentes par injection de fautes et essais sous radiations
  • Sécurité des MPSoC et NoC :
           Contre-mesures contre les attaques matérielles
  • Robustness and Reliability of MPSoCs and NoCs :
           Study of fault tolerance in multi-core systems using advanced technologies at multiple levels (circuit, block, micro-architecture, interconnection network, system)
            Evaluation of sensitivity to transient and permanent faults through fault injection and radiation testing
  • Security of MPSoCs and NoCs:
           Countermeasures against hardware attacks